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集成測試范文第1篇

中國集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資咨詢報(bào)告

報(bào)告屬性

【報(bào)告名稱】中國集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資咨詢報(bào)告

【報(bào)告性質(zhì)】專項(xiàng)調(diào)研：需方可根據(jù)需求對(duì)報(bào)告目錄修改，經(jīng)雙方確認(rèn)后簽訂正式協(xié)議。

【關(guān)鍵詞】集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資咨詢

【制作機(jī)關(guān)】中國市場調(diào)查研究中心

【交付方式】電子郵件特快專遞

【報(bào)告價(jià)格】協(xié)商定價(jià)（紙介版、電子版）

【定購電話】010-68452508010-88430838

報(bào)告目錄

一、集成電路測試概述

(一)集成電路測試產(chǎn)業(yè)定義、基本概念

(二)集成電路測試基本特點(diǎn)

(三)集成電路測試產(chǎn)品分類

二、集成電路測試產(chǎn)業(yè)分析

(一)國際集成電路測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展總體概況

1、本產(chǎn)業(yè)國際現(xiàn)狀分析

2、本產(chǎn)業(yè)主要國家和地區(qū)情況

3、本產(chǎn)業(yè)國際發(fā)展趨勢(shì)分析

4、2007國際集成電路測試發(fā)展概況

(二)我國集成電路測試產(chǎn)業(yè)的發(fā)展?fàn)顩r

1、我國集成電路測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展基本情況

2、集成電路測試產(chǎn)業(yè)的總體現(xiàn)狀

3、集成電路測試行業(yè)發(fā)展中存在的問題

4、2007我國集成電路測試行業(yè)發(fā)展回顧

三、2007年中國集成電路測試市場分析

(一)我國集成電路測試整體市場規(guī)模

1、總量規(guī)模

2、增長速度

3、各季度市場情況

(二)我國集成電路測試市場發(fā)展現(xiàn)狀分析

(三)原材料市場分析

(四)集成電路測試區(qū)域市場分析

(五)集成電路測試市場結(jié)構(gòu)分析

1、產(chǎn)品市場結(jié)構(gòu)

2、品牌市場結(jié)構(gòu)

3、區(qū)域市場結(jié)構(gòu)

4、渠道市場結(jié)構(gòu)

四、2007年中國集成電路測試市場供需監(jiān)測分析

(一)需求分析

1、產(chǎn)品需求

2、價(jià)格需求

3、渠道需求

4、購買需求

(二)供給分析

1、產(chǎn)品供給

2、價(jià)格供給

3、渠道供給

4、促銷供給

(三)市場特征分析

1、產(chǎn)品特征

2、價(jià)格特征

3、渠道特征

4、購買特征

五、2007年中國集成電路測試市場競爭格局與廠商市場競爭力評(píng)價(jià)

(一)競爭格局分析

(二)主力廠商市場競爭力評(píng)價(jià)

1、產(chǎn)品競爭力

2、價(jià)格競爭力

3、渠道競爭力

4、銷售競爭力

5、服務(wù)競爭力

6、品牌競爭力

六、影響2007-2010年中國集成電路測試市場發(fā)展因素

(一)有利因素

(二)不利因素

(三)政策因素

七、2007-2010年中國集成電路測試市場趨勢(shì)預(yù)測

(一)產(chǎn)品發(fā)展趨勢(shì)

(二)價(jià)格變化趨勢(shì)

(三)渠道發(fā)展趨勢(shì)

(四)用戶需求趨勢(shì)

(五)服務(wù)發(fā)展趨勢(shì)

八、2008年集成電路測試市場發(fā)展前景預(yù)測

(一)國際集成電路測試市場發(fā)展前景預(yù)測

1、國際集成電路測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展前景

2、2010年國際集成電路測試市場的發(fā)展預(yù)測

3、世界范圍集成電路測試市場的發(fā)展展望

(二)中國集成電路測試市場的發(fā)展前景

1、市場規(guī)模預(yù)測分析

2、市場結(jié)構(gòu)預(yù)測分析

(三)我國集成電路測試資源配置的前景

(四)集成電路測試中長期預(yù)測

1、2007－2010年經(jīng)濟(jì)增長與集成電路測試需求預(yù)測

2、2007－2010年集成電路測試行業(yè)總產(chǎn)量預(yù)測

3、我國中長期集成電路測試市場發(fā)展策略預(yù)測

九、中國主要集成電路測試生產(chǎn)企業(yè)(列舉)

十、國內(nèi)集成電路測試主要生產(chǎn)企業(yè)盈利能力比較分析

(一)2003-2007年集成電路測試行業(yè)利潤總額分析

1、2003-2007年行業(yè)利潤總額分析

2、不同規(guī)模企業(yè)利潤總額比較分析

3、不同所有制企業(yè)利潤總額比較分析

(二)2003-2007年集成電路測試行業(yè)銷售毛利率分析

(三)2003-2007年集成電路測試行業(yè)銷售利潤率分析

(四)2003-2007年集成電路測試行業(yè)總資產(chǎn)利潤率分析

(五)2003-2007年集成電路測試行業(yè)凈資產(chǎn)利潤率分析

(六)2003-2007年集成電路測試行業(yè)產(chǎn)值利稅率分析

十一.2008中國集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資分析

(一)投資環(huán)境

1、資源環(huán)境分析

2、市場競爭分析

3、稅收政策分析

(二)投資機(jī)會(huì)

(三)集成電路測試產(chǎn)業(yè)政策優(yōu)勢(shì)

(四)投資風(fēng)險(xiǎn)及對(duì)策分析

(五)投資發(fā)展前景

1、集成電路測試市場供需發(fā)展趨勢(shì)

2、集成電路測試未來發(fā)展展望

十二、集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資策略

(一)產(chǎn)品定位策略

1、市場細(xì)分策略

2、目標(biāo)市場的選擇

(二)產(chǎn)品開發(fā)策略

1、追求產(chǎn)品質(zhì)量

2、促進(jìn)產(chǎn)品多元化發(fā)展

(三)渠道銷售策略

1、銷售模式分類

2、市場投資建議

(四)品牌經(jīng)營策略

1、不同品牌經(jīng)營模式

2、如何切入開拓品牌

(五)服務(wù)策略

十三、投資建議

(一)集成電路測試產(chǎn)業(yè)市場投資總體評(píng)價(jià)

(二)集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資指導(dǎo)建議

十四、報(bào)告附件

(一)規(guī)模以上集成電路測試行業(yè)經(jīng)營企業(yè)通訊信息庫(excel格式)

主要內(nèi)容為：法人單位代碼、法人單位名稱、法定代表人(負(fù)責(zé)人)、行政區(qū)劃代碼、通信地址、區(qū)號(hào)、電話號(hào)碼、傳真號(hào)碼、郵政編碼、電子郵箱、網(wǎng)址、工商登記注冊(cè)號(hào)、編制登記注冊(cè)號(hào)、登記注冊(cè)類型、機(jī)構(gòu)類型……

(二)規(guī)模以上集成電路測試經(jīng)營數(shù)據(jù)庫(excel格式)

主要內(nèi)容為：主要業(yè)務(wù)活動(dòng)(或主要產(chǎn)品)、行業(yè)代碼、年末從業(yè)人員合計(jì)、全年?duì)I業(yè)收入合計(jì)、資產(chǎn)總計(jì)、工業(yè)總產(chǎn)值、工業(yè)銷售產(chǎn)值、工業(yè)增加值、流動(dòng)資產(chǎn)合計(jì)、固定資產(chǎn)合計(jì)、主營業(yè)務(wù)收入、主營業(yè)務(wù)成本、主營業(yè)務(wù)稅金及附加、其他業(yè)務(wù)收入、其他業(yè)務(wù)利潤、財(cái)務(wù)費(fèi)用、營業(yè)利潤、投資收益、營業(yè)外收入、利潤總額、虧損總額、利稅總額、應(yīng)交所得稅、廣告費(fèi)、研究開發(fā)費(fèi)、經(jīng)營活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、經(jīng)營活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流出、投資活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、投資活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流出、籌資活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、籌資活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流出……

十五、報(bào)告說明

(一)報(bào)告目的

(二)研究范圍

(三)研究區(qū)域

(四)數(shù)據(jù)來源

(五)研究方法

(六)一般定義

(七)市場定義

(八)市場競爭力指標(biāo)體系

(九)市場預(yù)測模型

集成測試范文第2篇

關(guān)鍵字：感煙探測器測試集成化

中圖分類號(hào)：O348文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼： A

Abstract：Smoke detector is one of the most common fire detection device in building fire protection facilities. According to the fire protection regulations maintenance units must be detector function test every year, and the third party inspection, a lot of work consumed in the smoke detector test. The author puts forward the idea about the smoke fire detector test function integration, in order to solve the problem of high cost and the detector alarm performance can not be quantified.

Key Words：smoke detectortestintegration

一、前言

隨著國民經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展，人民生活水平的提高，國家及民眾對(duì)于消防安全日益重視，火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)作為最為常用的早期火災(zāi)預(yù)警裝置日益普及，從最新實(shí)施的《火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)范》GB50116-2013就可以看出，國家對(duì)住宅建筑火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)的設(shè)置提出了明確的要求。感煙火災(zāi)探測器作為火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)中最為常用的報(bào)警裝置，其功能好壞直接關(guān)系到是否能夠早報(bào)警早處置，正是基于此，《火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)施工及驗(yàn)收規(guī)范》GB50166-2007明確要求每年需對(duì)所有探測器進(jìn)行功能測試，另外《消防法》規(guī)定需對(duì)建筑消防設(shè)施每年至少進(jìn)行一次全面檢測，即第三方消防檢測機(jī)構(gòu)年檢。

二、傳統(tǒng)測試方式的弊端

為了檢驗(yàn)感煙探測器報(bào)警功能的好壞，主要的測試方法是使用感煙探測器測試工具（俗稱煙槍）對(duì)其進(jìn)行流動(dòng)加煙試驗(yàn)。由于感煙探測器點(diǎn)多面散，操作人員需要扛槍流動(dòng)作業(yè)，再加上點(diǎn)香及煙霧加注過多后的善后處理等，消耗了維保和檢測單位的大量時(shí)間和人力、物力投入。

在傳統(tǒng)的加煙測試過程中，煙霧的濃度很難控制，煙霧進(jìn)入探測器內(nèi)部的數(shù)量更是不得而知，這就造成了有些靈敏度高的探測器幾秒鐘內(nèi)就立刻報(bào)警，而有些靈敏度差的探測器就需要注煙幾分鐘后才報(bào)警，雖然都有報(bào)警功能但是顯然兩者都存在著一定的問題，前者容易受環(huán)境影響產(chǎn)生誤報(bào)警，而后者又不能做到火災(zāi)的早期預(yù)警，關(guān)鍵因素是煙量無法準(zhǔn)確控制，現(xiàn)場加煙與實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)煙室存在著很大的差別，這也是感煙探測器的報(bào)警功能參數(shù)未納入計(jì)量認(rèn)證的原因之一。

另外在一些特殊場所，如中庭、高架倉庫等，點(diǎn)型感煙探測器安裝高度能夠達(dá)到極限高度12米，線型光束感煙探測器安裝高度可以達(dá)到20米，煙槍無法觸及，需登高作業(yè)方可進(jìn)行測試，十分不便；再如一些危險(xiǎn)場所，如變壓器室、高壓開關(guān)室等，平時(shí)人員無法進(jìn)入，只能在停機(jī)的情況下才能進(jìn)行測試。還有一些禁煙場所，如煤氣等易燃易爆區(qū)域、高檔賓館酒店等，傳統(tǒng)的加煙測試方式局限性很大。

三、感煙探測器測試功能集成化

造成目前這種現(xiàn)狀的主要原因是探測器生產(chǎn)廠家設(shè)計(jì)探測器的初衷只是為了探測火災(zāi)，而沒有考慮到日后測試及維護(hù)的方便快捷。隨著人們對(duì)消防安全的日益重視，以及勞動(dòng)力成本的不斷提升，亟需一種既能夠準(zhǔn)確判斷感煙探測器報(bào)警性能又便于測試的手段。

點(diǎn)型感煙火災(zāi)探測器是消防火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)中使用最為廣泛的探測裝置，雖然歷經(jīng)幾十年的發(fā)展，但其探測原理沒有發(fā)生實(shí)質(zhì)性的改變，它是通過探測區(qū)域煙霧濃度變化影響到光線的變化，當(dāng)煙霧造成的光線減弱到一定的數(shù)值后，再轉(zhuǎn)化為電信號(hào)實(shí)現(xiàn)報(bào)警目的的一種器件。光電探測器的響應(yīng)閾值，即用減光系數(shù)m值(單位為dB/m)表示的探測器報(bào)警時(shí)刻的煙濃度，需采用實(shí)驗(yàn)室方法測量確定，即在光學(xué)密度計(jì)利用光束受煙粒子作用后，光輻射能按指數(shù)規(guī)律衰減的原理測量煙濃度。減光系數(shù)用下式表示：

m=（10/d)lg(P0/P)，式中：

m―減光系數(shù)，dB/m；

d―試驗(yàn)煙的光學(xué)測量長度，m；

P0―無煙時(shí)接收的輻射功率，W；

P―有煙時(shí)接收的輻射功率，W。

如果在其內(nèi)部集成物理減光測試裝置和執(zhí)行機(jī)構(gòu)，在測試時(shí)使減光裝置動(dòng)作，遮擋光源，同樣能夠啟到模擬煙霧的效果，達(dá)到測試報(bào)警功能的目的。在現(xiàn)場使用了一段時(shí)間后，如果在減光裝置動(dòng)作后不能及時(shí)報(bào)警即可以判定該探測器的報(bào)警閾值已經(jīng)達(dá)不到出廠時(shí)的最低要求，可以通過廠家提升靈敏度，或者進(jìn)行清洗或更換，徹底解決了傳統(tǒng)的通過加煙進(jìn)行探測器測試方法中的煙量無法準(zhǔn)確控制，判斷報(bào)警時(shí)間是否及時(shí)的關(guān)鍵問題。由于目前感煙探測器在生產(chǎn)過程中可以設(shè)定不同的靈敏度，所以在減光裝置的選擇上應(yīng)該與探測器最低靈敏度時(shí)的響應(yīng)閾值相匹配，以準(zhǔn)確判斷在最不利的情況下探測器報(bào)警功能的好壞。

對(duì)于線型光束感煙探測器以及管路采樣式吸氣感煙火災(zāi)探測器測試裝置的集成同樣可以采用以上思路。前者可根據(jù)《建筑消防設(shè)施檢測技術(shù)規(guī)程》GA503-2004的測試方法，在發(fā)射器及接收器處的光路上分別安裝減光值為1.0dB和10dB的減光裝置，分別啟到測試報(bào)警及報(bào)故障的功能。而后者如果安裝高度較高不便測試的話，可以在最不利的采樣孔處安裝一根空心伴隨管便于將測試煙霧送入采用孔中。

在如何控制減光裝置執(zhí)行及復(fù)位的問題上，筆者認(rèn)為可以在探測器內(nèi)部集成紅外接收裝置，測試現(xiàn)場可以采用紅外線遠(yuǎn)程遙控控制的方式，大大減少走動(dòng)測試的時(shí)間，同時(shí)在火災(zāi)報(bào)警控制器內(nèi)部增加測試模式和接口，使其能夠在消防控制室火災(zāi)報(bào)警控制器控制面板或圖形顯示裝置上就能夠控制每一個(gè)感煙探測器內(nèi)部減光裝置的執(zhí)行，達(dá)到測試的目的。

集成測試范文第3篇

集成運(yùn)算放大器(以下簡稱集成運(yùn)放)以小尺寸、輕重量、低功耗、高可靠性等優(yōu)點(diǎn)廣泛應(yīng)用于眾多軍用和民用電子系統(tǒng)，是構(gòu)成智能武器裝備電子系統(tǒng)的關(guān)鍵器件之一。近年來，隨著微電子技術(shù)的飛速發(fā)展，集成運(yùn)放無論在技術(shù)性能上還是在可靠性上都日趨完善，并在我國軍用系統(tǒng)中被大量使用，其質(zhì)量的好壞，關(guān)系到具體工程乃至國家的安危。

隨著集成運(yùn)算放大器參數(shù)測試儀(以下簡稱運(yùn)放測試儀)在國防軍工和民用領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，其質(zhì)量問題顯得尤為重要。傳統(tǒng)的運(yùn)放測試儀校準(zhǔn)方案已不能滿足國防軍工的要求，運(yùn)放測試儀的校準(zhǔn)問題面臨嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。因此，如何規(guī)范和提高運(yùn)放測試儀的測試精度，保證軍用運(yùn)放器件的準(zhǔn)確性是目前應(yīng)該解決的關(guān)鍵問題。

目前，國內(nèi)外運(yùn)放測試儀(或者模擬器件測試系統(tǒng))主要存在以下幾種校準(zhǔn)方案：校準(zhǔn)板法、標(biāo)準(zhǔn)樣片法和標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法。各校準(zhǔn)方案校準(zhǔn)項(xiàng)目、優(yōu)缺點(diǎn)和相關(guān)情況的比較如表1所示。

比較以上三種方案可知，前兩種方法只是校準(zhǔn)儀器內(nèi)部使用的PMU單元、電流源、電壓源等，并不涉及到儀器本身閉環(huán)測試電路部分，局限性很大，很難保證運(yùn)放測試儀的集成運(yùn)放器件參數(shù)測試精度。而標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法直接面向測試夾具，其校準(zhǔn)方法具有一定可行性，只是在校準(zhǔn)精度、通用性、測試自動(dòng)化程度等方面需要進(jìn)一步的研究。因此，通過對(duì)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法加以改進(jìn)，對(duì)運(yùn)放測試儀進(jìn)行校準(zhǔn)，開發(fā)出集成運(yùn)放參數(shù)測試儀校準(zhǔn)裝置，在參數(shù)精度和校準(zhǔn)范圍上，能滿足國內(nèi)大多數(shù)運(yùn)放測試儀，在通用性上，能夠校準(zhǔn)使用“閉環(huán)測試原理”的儀器。

系統(tǒng)性能要求

本課題的主要任務(wù)是通過研究國內(nèi)外運(yùn)放測試儀的校準(zhǔn)方法，改進(jìn)實(shí)用性較強(qiáng)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法，用指標(biāo)更高的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)來校準(zhǔn)運(yùn)放測試儀，實(shí)現(xiàn)運(yùn)放測試儀的自動(dòng)化校準(zhǔn)以及校準(zhǔn)原始記錄、校準(zhǔn)證書的自動(dòng)生成等。

表2為本課題中研制的集成運(yùn)放參數(shù)測試儀校準(zhǔn)裝置與市場上典型運(yùn)放測試儀的技術(shù)指標(biāo)比較情況。從表2可以看出，校準(zhǔn)裝置技術(shù)指標(biāo)可以校準(zhǔn)市場上的典型運(yùn)放測試儀。

校準(zhǔn)裝置的硬件設(shè)計(jì)方案

校準(zhǔn)方案覆蓋了市場上運(yùn)放測試儀給出的大部分參數(shù)，其中包括輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流等10個(gè)參數(shù)。通過研究集成運(yùn)放參數(shù)“閉環(huán)測試原理”可知：有的參數(shù)校準(zhǔn)要用到“閉環(huán)測試回路”，有的直接接上相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)儀器進(jìn)行測量即可實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的校準(zhǔn)。對(duì)于用到“閉環(huán)測試回路”的幾個(gè)參數(shù)而言，主要通過補(bǔ)償電源裝置和模擬電源裝置來校準(zhǔn)。運(yùn)放測試儀總體校準(zhǔn)方案如圖1所示。

1　校準(zhǔn)電路設(shè)計(jì)

輸入失調(diào)電壓V的定義為使輸出電壓為零(或者規(guī)定值)時(shí)，兩輸入端所加的直流補(bǔ)償電壓。集成運(yùn)放可模擬等效為輸入端有一電壓存在的理想集成運(yùn)算放大器，校準(zhǔn)原理如圖2所示。通過調(diào)節(jié)補(bǔ)償電源裝置給輸入一個(gè)與V。電壓等量相反的電壓V輸入就可等效為V=V1+V=0，則被測集成運(yùn)放與接口電路等效為一輸入失調(diào)電壓為零的理想運(yùn)算放大器。然后，調(diào)節(jié)模擬電源裝置，給定模擬標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)放輸入失調(diào)電壓參數(shù)值。通過數(shù)字多用表讀數(shù)與被校運(yùn)放測試儀測試值比較，計(jì)算出誤差值，完成V參數(shù)校準(zhǔn)。

2　單片機(jī)控制電路設(shè)計(jì)

單片機(jī)采用AT89S51，這是一個(gè)低功耗、高性能CMOS 8位單片機(jī)，片內(nèi)含可反復(fù)擦寫1000次的4KB ISP(In-system programmable)Flash ROM。其采用ATMEL公司的高密度、非易失性存儲(chǔ)技術(shù)制造，兼容標(biāo)準(zhǔn)MCS-5 1指令系統(tǒng)及80C51引腳結(jié)構(gòu)，集成了通用8位中央處理器和ISP Flash存儲(chǔ)單元。

本設(shè)計(jì)中，采用單片機(jī)控制信號(hào)繼電器來實(shí)現(xiàn)電路測試狀態(tài)轉(zhuǎn)換，信號(hào)繼電器選用的是HKE公司的HRS2H-S-DC5V，能夠快速完成測試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換，只需單片機(jī)5V供電電源即可，便于完成參數(shù)的校準(zhǔn)。此外，繼電器跳變由PNP三極管$8550來驅(qū)動(dòng)完成。

3　液晶顯示電路設(shè)計(jì)

智能彩色液晶顯示器VK56B是上海廣電集團(tuán)北京分公司的產(chǎn)品，具有體積小、功耗低、無輔射、壽命長、超薄、防振及防爆等特點(diǎn)。該LCD采用工業(yè)級(jí)的CPU，機(jī)內(nèi)配置有二級(jí)字庫，可通過串口或三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口接收控制命令數(shù)據(jù)，并自行對(duì)接收的命令和數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，以實(shí)時(shí)顯示用戶所要顯示的各種曲線、圖形和中西文字體。AT89S5 1與智能化液晶VK56B的接口電路如圖3所示。單片機(jī)與LED采用并行通信設(shè)計(jì)，LCD自身具有一個(gè)三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口(并口為CMOS電平)，可以同主機(jī)進(jìn)行通信。它外部有12條線同單片機(jī)相連，即DO-D7、WRCS、BUSY、INT和GND。其中，WRCS為片選信號(hào)和寫信號(hào)的邏輯或非，上升沿有效，BUSY信號(hào)為高(CMOS電平)表示忙，INT為中斷申請(qǐng)信號(hào)，低電平有效。

集成運(yùn)放參數(shù)測試儀校準(zhǔn)裝置軟件設(shè)計(jì)

軟件部分包括上位機(jī)軟件和下位機(jī)軟件設(shè)計(jì)。上位機(jī)軟件完成PC與單片機(jī)的通信以及校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理等工作；下位機(jī)軟件即單片機(jī)源程序。本設(shè)計(jì)使用Keil C完成測試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換、與上位機(jī)串行通信以及測試參數(shù)的實(shí)時(shí)顯示等。

1　上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)

上位機(jī)軟件主要分為三部分：參數(shù)設(shè)置部分主要完成被校運(yùn)放測試儀信息錄入，校準(zhǔn)部分完成各參數(shù)的校準(zhǔn)，數(shù)據(jù)處理部分完成校準(zhǔn)證書及原始記錄的自動(dòng)化報(bào)表。上位機(jī)軟件主對(duì)話框如圖4所示?！皡?shù)設(shè)置”部分主要完成被校運(yùn)放測試儀的資料錄入；“校準(zhǔn)”部分主要通過下位機(jī)配合完成輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流等10個(gè)參數(shù)的校準(zhǔn)過程；“生成校準(zhǔn)證書”、“生成原始記錄”、“預(yù)覽校準(zhǔn)證書”、“預(yù)覽原始記錄”主要實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的自動(dòng)化處理。

2　下位機(jī)軟件設(shè)計(jì)

下位機(jī)軟件主要通過Keil C進(jìn)行編寫，通過下位機(jī)軟件完成校準(zhǔn)參數(shù)的動(dòng)態(tài)顯示以及測試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換等。其包括兩個(gè)部分，一部分是ST7920液晶驅(qū)動(dòng)程序，另外一部分是單片機(jī)串口通信程序。這里簡要介紹一下VK56B液晶驅(qū)動(dòng)程序的編寫。圖5是LCD的時(shí)序圖。其中，TW為WRCS信號(hào)的脈沖寬度，TSU為數(shù)據(jù)建立時(shí)間，TH為數(shù)據(jù)保持時(shí)間。這些參數(shù)的具體要求為：TW不小于16ns，TSU不小于12ns，T大于0ns，TH不小于5ns，TI不小于2us。

校準(zhǔn)裝開發(fā)過程中需要注意的一些問題

接口電路的器件由高分辨率、高穩(wěn)定、低紋波系數(shù)電源供電，接口電路的器件偏置電源采用電池供電。

校準(zhǔn)接口電路單元中的標(biāo)準(zhǔn)電阻采用溫度系數(shù)小且準(zhǔn)確度優(yōu)于0.02％的標(biāo)準(zhǔn)電阻，然后再經(jīng)加電老化進(jìn)行篩選。

校準(zhǔn)接口電路單元的輔助電路和補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)的制作關(guān)鍵是不能引入會(huì)對(duì)被校儀器產(chǎn)生噪聲，自激振蕩等的影響量。在電路板制作中，注意布線、元件排序、良好接地以及箱體的電磁屏蔽。

為保證標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)不確定度，將購置國外不同型號(hào)符合要求的器件進(jìn)行嚴(yán)格篩選作為驗(yàn)證用標(biāo)準(zhǔn)樣片，并利用標(biāo)準(zhǔn)樣片與國內(nèi)性能和穩(wěn)定性好的進(jìn)口、國產(chǎn)測量(器具)系統(tǒng)進(jìn)行比對(duì)驗(yàn)證。

測試用輔助樣管，一定要滿足表的指標(biāo)規(guī)定(選用表3中輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流等參數(shù)允許值的輔助樣片校準(zhǔn)被檢運(yùn)放測試儀)，否則將造成測量結(jié)果的不準(zhǔn)確。

主要技術(shù)要求如表3所示。

集成測試范文第4篇

關(guān)鍵詞： 集成電路測試； 自動(dòng)測試設(shè)備； 測試向量； 向量生成

中圖分類號(hào)： TN964?34 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼： A 文章編號(hào)： 1004?373X（2014）06?0122?03

Analysis of IC test principle and vector generation method

集成電路測試（IC測試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測試，有著重要的意義。而測試向量作為IC測試中的重要部分，研究其生成方法也日漸重要。

1 IC測試

1.1 IC測試原理

IC測試是指依據(jù)被測器件（DUT）特點(diǎn)和功能，給DUT提供測試激勵(lì)（X），通過測量DUT輸出響應(yīng)（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測試的基本原理模型。

根據(jù)器件類型，IC測試可以分為數(shù)字電路測試、模擬電路測試和混合電路測試。數(shù)字電路測試是IC測試的基礎(chǔ)，除少數(shù)純模擬IC如運(yùn)算放大器、電壓比較器、模擬開關(guān)等之外，現(xiàn)代電子系統(tǒng)中使用的大部分IC都包含有數(shù)字信號(hào)。

數(shù)字IC測試一般有直流測試、交流測試和功能測試。

1.2 功能測試

功能測試用于驗(yàn)證IC是否能完成設(shè)計(jì)所預(yù)期的工作或功能。功能測試是數(shù)字電路測試的根本，它模擬IC的實(shí)際工作狀態(tài)，輸入一系列有序或隨機(jī)組合的測試圖形，以電路規(guī)定的速率作用于被測器件，再在電路輸出端檢測輸出信號(hào)是否與預(yù)期圖形數(shù)據(jù)相符，以此判別電路功能是否正常。其關(guān)注的重點(diǎn)是圖形產(chǎn)生的速率、邊沿定時(shí)控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等[1]。

功能測試分靜態(tài)功能測試和動(dòng)態(tài)功能測試。靜態(tài)功能測試一般是按真值表的方法，發(fā)現(xiàn)固定型（Stuck?at）故障[2]。動(dòng)態(tài)功能測試則以接近電路工作頻率的速度進(jìn)行測試，其目的是在接近或高于器件實(shí)際工作頻率的情況下，驗(yàn)證器件的功能和性能。

功能測試一般在ATE（Automatic Test Equipment）上進(jìn)行，ATE測試可以根據(jù)器件在設(shè)計(jì)階段的模擬仿真波形，提供具有復(fù)雜時(shí)序的測試激勵(lì)，并對(duì)器件的輸出進(jìn)行實(shí)時(shí)的采樣、比較和判斷。

1.3 交流參數(shù)測試

交流（AC）參數(shù)測試是以時(shí)間為單位驗(yàn)證與時(shí)間相關(guān)的參數(shù)，實(shí)際上是對(duì)電路工作時(shí)的時(shí)間關(guān)系進(jìn)行測量，測量諸如工作頻率、輸入信號(hào)輸出信號(hào)隨時(shí)間的變化關(guān)系等。常見的測量參數(shù)有上升和下降時(shí)間、傳輸延遲、建立和保持時(shí)間以及存儲(chǔ)時(shí)間等。交流參數(shù)最關(guān)注的是最大測試速率和重復(fù)性能，然后為準(zhǔn)確度。

1.4 直流參數(shù)測試

直流測試是基于歐姆定律的，用來確定器件參數(shù)的穩(wěn)態(tài)測試方法。它是以電壓或電流的形式驗(yàn)證電氣參數(shù)。直流參數(shù)測試包括：接觸測試、漏電流測試、轉(zhuǎn)換電平測試、輸出電平測試、電源消耗測試等。

直流測試常用的測試方法有加壓測流（FVMI）和加流測壓（FIMV）[3]，測試時(shí)主要考慮測試準(zhǔn)確度和測試效率。通過直流測試可以判明電路的質(zhì)量。如通過接觸測試判別IC引腳的開路/短路情況、通過漏電測試可以從某方面反映電路的工藝質(zhì)量、通過轉(zhuǎn)換電平測試驗(yàn)證電路的驅(qū)動(dòng)能力和抗噪聲能力。

直流測試是IC測試的基礎(chǔ)，是檢測電路性能和可靠性的基本判別手段。

1.5 ATE測試平臺(tái)

ATE（Automatic Test Equipment）是自動(dòng)測試設(shè)備，它是一個(gè)集成電路測試系統(tǒng)，用來進(jìn)行IC測試。一般包括計(jì)算機(jī)和軟件系統(tǒng)、系統(tǒng)總線控制系統(tǒng)、圖形存儲(chǔ)器、圖形控制器、定時(shí)發(fā)生器、精密測量單元（PMU）、可編程電源和測試臺(tái)等。

系統(tǒng)控制總線提供測試系統(tǒng)與計(jì)算機(jī)接口卡的連接。圖形控制器用來控制測試圖形的順序流向，是數(shù)字測試系統(tǒng)的CPU。它可以提供DUT所需電源、圖形、周期和時(shí)序、驅(qū)動(dòng)電平等信息。

2 測試向量及其生成

測試向量（Test Vector）的一個(gè)基本定義是：測試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。這一定義聽起來似乎很簡單，但在真實(shí)應(yīng)用中則復(fù)雜得多。因?yàn)檫壿?和邏輯0是由帶定時(shí)特性和電平特性的波形代表的，與波形形狀、脈沖寬度、脈沖邊緣或斜率以及上升沿和下降沿的位置都有關(guān)系。

2.1 ATE測試向量

在ATE語言中，其測試向量包含了輸入激勵(lì)和預(yù)期存儲(chǔ)響應(yīng)，通過把兩者結(jié)合形成ATE的測試圖形。這些圖形在ATE中是通過系統(tǒng)時(shí)鐘上升和下降沿、器件管腳對(duì)建立時(shí)間和保持時(shí)間的要求和一定的格式化方式來表示的。格式化方式一般有RZ（歸零）、RO（歸1）、NRZ（非歸零）和NRZI（非歸零反）等[4]。

圖2為RZ和R1格式化波形，圖3為NRZ和NRZI格式化波形。

RZ數(shù)據(jù)格式，在系統(tǒng)時(shí)鐘的起始時(shí)間T0，RZ測試波形保持為“0”，如果在該時(shí)鐘周期圖形存儲(chǔ)器輸出圖形數(shù)據(jù)為“1”，則在該周期的時(shí)鐘周期期間，RZ測試波形由“0”變換到“1”，時(shí)鐘結(jié)束時(shí)，RZ測試波形回到“0”。若該時(shí)鐘周期圖形存儲(chǔ)器輸出圖形數(shù)據(jù)為“0”，則RZ測試波形一直保持為“0”，在時(shí)鐘信號(hào)周期內(nèi)不再發(fā)生變化。歸“1”格式（R1）與RZ相反。

非歸“0”（NRZ）數(shù)據(jù)格式，在系統(tǒng)時(shí)鐘起始時(shí)間T0，NRZ測試波形保持T0前的波形，根據(jù)本時(shí)鐘周期圖形文件存儲(chǔ)的圖形數(shù)據(jù)在時(shí)鐘的信號(hào)沿變化。即若圖形文件存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為“1”，那么在相應(yīng)時(shí)鐘邊沿，波形則變化為“1”。NRZI波形是NRZ波形的反相。

在ATE中，通過測試程序?qū)r(shí)鐘周期、時(shí)鐘前沿、時(shí)鐘后沿和采樣時(shí)間的定義，結(jié)合圖形文件中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)，形成實(shí)際測試時(shí)所需的測試向量。

ATE測試向量與EDA設(shè)計(jì)仿真向量不同，而且不同的ATE，其向量格式也不盡相同。以JC?3165型ATE為例，其向量格式如圖4所示。

ATE向量信息以一定格式的文件保存，JC?3165向量文件為 *.MDC文件。在ATE測試中，需將*.MDC文件通過圖形文件編譯器，編譯成測試程序可識(shí)別的*.MPD文件。在測試程序中，通過裝載圖形命令裝載到程序中。

圖4 ATE測試向量格式

2.2 ATE測試向量的生成

對(duì)簡單的集成電路，如門電路，其ATE測試向量一般可以按照ATE向量格式手工完成。而對(duì)于一些集成度高，功能復(fù)雜的IC，其向量數(shù)據(jù)龐大，一般不可能依據(jù)其邏輯關(guān)系直接寫出所需測試向量，因此，有必要探尋一種方便可行的方法，完成ATE向量的生成。

在IC設(shè)計(jì)制造產(chǎn)業(yè)中，設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和仿真是不可分離的。其ATE測試向量生成的一種方法是，從基于EDA工具的仿真向量（包含輸入信號(hào)和期望的輸出），經(jīng)過優(yōu)化和轉(zhuǎn)換，形成ATE格式的測試向量。

依此，可以建立一種向量生成方法。利用EDA工具建立器件模型，通過建立一個(gè)Test bench仿真驗(yàn)證平臺(tái)，對(duì)其提供測試激勵(lì)，進(jìn)行仿真，驗(yàn)證仿真結(jié)果，將輸入激勵(lì)和輸出響應(yīng)存儲(chǔ)，按照ATE向量格式，生成ATE向量文件。其原理如圖5所示。

2.3 測試平臺(tái)的建立

（1） DUT模型的建立

① 164245模型：在Modelsim工具下用Verilog HDL語言[5]，建立164245模型。164245是一個(gè)雙8位雙向電平轉(zhuǎn)換器，有4個(gè)輸入控制端：1DIR，1OE，2DIR，2OE；4組8位雙向端口：② 緩沖器模型：建立一個(gè)8位緩沖器模型，用來做Test bench與164245之間的數(shù)據(jù)緩沖，通過在Test bench總調(diào)用緩沖器模塊，解決Test bench與164245模型之間的數(shù)據(jù)輸入問題。

（2） Test bench的建立

依據(jù)器件功能，建立Test bench平臺(tái)，用來輸入仿真向量。

通過Test bench 提供測試激勵(lì)，經(jīng)過緩沖區(qū)接口送入DUT，觀察DUT輸出響應(yīng)，如果滿足器件功能要求，則存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，經(jīng)過處理按照ATE圖形文件格式產(chǎn)生*.MDC文件；若輸出響應(yīng)有誤，則返回Test bench 和DUT模型進(jìn)行修正。其原理框圖可表示如圖6所示。

（3） 仿真和驗(yàn)證

通過Test bench 給予相應(yīng)的測試激勵(lì)進(jìn)行仿真，得到預(yù)期的結(jié)果，實(shí)現(xiàn)了器件功能仿真，并獲得了測試圖形。圖7和圖8為部分仿真結(jié)果。

在JC?3165的*.MDC圖形文件中，對(duì)輸入引腳，用“1”和“0”表示高低電平；對(duì)輸出引腳，用“H”和“L”表示高低電平；“X”則表示不關(guān)心狀態(tài)。由于在仿真時(shí)，輸出也是“0”和“1”，因此在驗(yàn)證結(jié)果正確后，對(duì)輸出結(jié)果進(jìn)行了處理，分別將“0”和“1”轉(zhuǎn)換為“L”和“H”，然后放到存儲(chǔ)其中，最后生成*.MDC圖形文件。

3 結(jié) 論

本文在Modelsim環(huán)境下，通過Verilog HDL語言建立一個(gè)器件模型，搭建一個(gè)驗(yàn)證仿真平臺(tái)，對(duì)164245進(jìn)行了仿真，驗(yàn)證了164245的功能，同時(shí)得到了ATE所需的圖形文件，實(shí)現(xiàn)了預(yù)期所要完成的任務(wù)。

隨著集成電路的發(fā)展，芯片設(shè)計(jì)水平的不斷提高，功能越來越復(fù)雜，測試圖形文件也將相當(dāng)復(fù)雜且巨大，編寫出全面、有效，且基本覆蓋芯片大多數(shù)功能的測試圖形文件逐漸成為一種挑戰(zhàn)，在ATE上實(shí)現(xiàn)測試圖形自動(dòng)生成已不可能。因此，有必要尋找一種能在EDA工具和ATE測試平臺(tái)之間的一種靈活通訊的方法。

目前常用的一種方法是，通過提取EDA工具產(chǎn)生的VCD仿真文件中的信息，轉(zhuǎn)換為ATE測試平臺(tái)所需的測試圖形文件[6]，這需要對(duì)VCD文件有一定的了解，也是進(jìn)一步的工作。

參考文獻(xiàn)

[1] 陳明亮.數(shù)字集成電路自動(dòng)測試硬件技術(shù)研究[D].成都：電子科技大學(xué)，2010.

[2] 時(shí)萬春.現(xiàn)代集成電路測試技術(shù)[M].北京：化學(xué)工業(yè)出版社，2006.

[3] 譚永良，伍廣鐘，崔華醒，等.自動(dòng)測試設(shè)備加流測壓及加壓測流的設(shè)計(jì)[J]電子技術(shù)，2011（1）：68?69.

[4] 北京集成泰思特測試技術(shù)有限公司.JC?3165測試系統(tǒng)使用手冊(cè)[M].北京：北京集成泰思特測試技術(shù)有限公司，2009.

集成測試范文第5篇

關(guān)鍵詞：UML類圖，測試序列，面向?qū)ο筌浖y試

中圖分類號(hào)：TP311 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A DoI: 10.3969/j.issn.1003-6970.2012.03.023

A New Method to Generating OO Integration Testing Scenarios

SU Hui

(School of Information, Xi’an University of Finance and Economics, Xi’an 710100)

【Abstract】Integrated testing is an important part of OO software testing. UML is useful not only in software design but also in software testing. In this paper, an testing scenarios approach based on UML class diagram is presented, which is in terms of OO software’s integrated testing features. Firstly, class’s massages are taken out from UML class diagram. Secondly, the class cohesion and degree of coupling between classes are computed according to definitions in paper and saved in database. Thirdly, select the class info from database standing on the degree of coupling between classes from big to small. Finally, the OO integrate testing scenarios are created and put out .The experiments show that the method is effective.

【Key words】UML class diagram; testing scenarios; OO integrate testing

0 引 言

面向?qū)ο筌浖姆庋b性、繼承性、多態(tài)性和動(dòng)態(tài)綁定等特性提高了軟件的可重用性，使軟件開發(fā)質(zhì)量更高，而且軟件易于維護(hù)，通過組裝可復(fù)用子系統(tǒng)而產(chǎn)生更大的系統(tǒng)。但是面向?qū)ο筌浖倪@些特性對(duì)軟件測試產(chǎn)生了深刻的影響。集成測試的一個(gè)主要目標(biāo)是確保某個(gè)類或組件對(duì)象的消息以正確的順序發(fā)送和接收并確保接收消息的外部對(duì)象的狀態(tài)獲得預(yù)期影響。即便單獨(dú)測試通過的類，其對(duì)象在參與協(xié)作時(shí)依然可能產(chǎn)生若干錯(cuò)誤，如接口錯(cuò)誤、功能沖突、功能遺漏等。只有對(duì)協(xié)作類的直接與間接交互進(jìn)行測試才能盡可能地避免類集成給軟件帶來的錯(cuò)誤[1-2]。

基于UML開發(fā)的模型圖包含大量的軟件分析設(shè)計(jì)信息，這些信息不僅是軟件實(shí)現(xiàn)的依據(jù)，也是軟件測試的重要依據(jù)。本文在UML類圖信息的基礎(chǔ)上，添加新的有助于測試的重要信息，然后將類圖信息和添加信息存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫中，最后對(duì)類的關(guān)鍵信息進(jìn)行遍歷，生成集成測試的測試序列。

UML的可視模型總共有九種圖。例如，用例圖從用戶角度描述系統(tǒng)功能并指出各功能的操作者，包括活動(dòng)者、用例和關(guān)系，類圖屬于靜態(tài)視圖部分，包括了類、接口及其之間的聯(lián)系和關(guān)系[3-4]。其余的圖有對(duì)象圖，協(xié)作圖，順序圖，狀態(tài)圖等。類圖是面向?qū)ο笤O(shè)計(jì)中最重要的描述，其中包含的豐富的信息，為軟件集成級(jí)測試提供了強(qiáng)有力的依據(jù)。為了解決測試場景中的問題，提出如下假定：

(1)類圖描述的信息與UML中其余幾種圖中的相關(guān)信息描述的規(guī)約是一致的。

(2)系統(tǒng)中的所有模型中的信息內(nèi)容均可以從UML文件中利用其接口獲取。

(3)假定UML類圖已經(jīng)通過了一致性檢查并且關(guān)于類圖的一切均是正確的。

1 UML類圖度量

一個(gè)好的類結(jié)構(gòu)應(yīng)該符合軟件工程的定義，也就是要求類間的耦合度盡量小，類的內(nèi)聚度盡可能大。這樣才有助于系統(tǒng)的開發(fā)、測試、維護(hù)工作。

1.1 類內(nèi)聚度計(jì)算

類的內(nèi)聚度反映了一個(gè)類的內(nèi)部各成分聯(lián)系的緊密程度[5]。在UML類圖中，類由類名、屬性和方法三部分組成。屬性又可以分為公有屬性、私有屬性和受保護(hù)屬性。同樣的，方法也可以分為公有方法、私有方法和受保護(hù)方法。

定義1：UML 中的一個(gè)類可以用一個(gè)三元組表示，類=，其中：C_ID表示類的編號(hào)，C_NA

3 結(jié)論和展望

本文根據(jù)面向?qū)ο筌浖治鲋械腢ML模型圖，充分利用了UML的類圖信息，提出的測試序列的生成算法簡單有效，不僅為集成測試的漸增集成次序提供依據(jù)，而且類的內(nèi)聚度也是類級(jí)測試中定義優(yōu)先級(jí)的一個(gè)重要指標(biāo)。為更進(jìn)一步完善文中提出的方法，下一步的工作的重點(diǎn)是對(duì)類內(nèi)聚度和類間耦合度的計(jì)算更為科學(xué)化，測試序列的生成算法的進(jìn)一步優(yōu)化。

參考文獻(xiàn)

[1] Perry,D and Kaiser.Adequate testing and objectoriented programming journal of Object-Oriented Programming,1990,2[5],13-19

[2] 李強(qiáng)，曾一.一種基于UML的集成測試線索的生成方法[J].計(jì)算機(jī)工程與科學(xué),2009,03

[3] 李自強(qiáng).基于ARM的移動(dòng)圖書導(dǎo)航系統(tǒng)[J].軟件，2011，33(9)：26-30.